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高解析度X光无损探伤仪

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有效期至: 长期有效
最后更新: 2017-12-03 17:18
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“高解析度X光无损探伤仪”详细介绍

  HT 系列高解析度X光无损探伤仪主要使用于BGA、CSP、flip chip、半导内部以及多层电路板的质量检测,并能快捷清晰地检测电路板的焊接情况,特别适用生产过程的质量检测和返修后的质量检测。HT包括一个基于Microsoft Windows系统平台的工作台(HT-1000),并配有图像多样采集功能,能够做到图像同步采集与分析。HT光机完全体现了ELT设计的理念,高度灵活的通用系统,满足各种应用要求,快速获得高分辨率检测结果,使用简单,设计完美。
  适用范围:
  HT100可以对高密度封装基板和BGA、CSP、系统LSI等超细微部分的部合情况(如断线、连焊),进行高倍率的非破坏性检查,IC 封装检测,电容,电阻等元器件的检测,一些金属器件的内部探伤,电热管、锂电池、珍珠、精密器件等内部探伤。
  
  结构特点:
  1.人性化无极变速操纵摇杆,X/Y/R运动方向,幅度,速度,角度任意控制。
  2.应用滚珠丝杆结构,导轨噪音小,运动顺畅等运动装置。
  3.机器结构安全紧凑,占地面积小,而且还设计了便于放入大型样品工作载物台。
  4.观察窗口视野大。
  5.整体防护措施符合欧美安全辐射标准。
  6.HT-1000软件支持中、英文语言界面,使用方便。
  7.美国技术,世界先进水平。
  
  系统特点:
  1.最高电压可达130KV,电流150uA,5um微焦点的X-ray新型光管。
  2.观察范围可从1.5mm至50mm.
  3.快速获得高分辨率检测结果。
  4.X光管的Z轴可动控制(FOV和放大率控制),X光管探测器的Z轴可动控制(FOV和放大率控制)。
  5.载物台可作±60°倾斜,即使从垂直方向不容易发现的缺陷部位,也可通过倾斜检查出来。
  
  HT-1000软件功能:
  1.同步消除雪花,通过黑白对比而自动寻找边缘;
  2.【尺寸的测量】可以进行2点间的距离,线与线之间的角度,弧度的测量。自
  动校准尺寸自动地进行计算。
  3.【BGA气泡率的测定】界限值设定完之后,根据自动计算,可将合格与不合格的产品判别出来。
  4.【面积比率的测定】对于焊膏气泡等的面积比率,计算机可以自动地把自选区域(ROI)。内部的气泡面积与
  自选区域进行比较从而得出面积比率。
  5.强大的图像采集对比库以便进行探伤分析;
  6.具备镜像、翻转、对比度等多种图像处理功能;
  7.根据计算结果,将不合格的(气泡率超标,少锡,流锡等),可以半自动标注或手动标注。

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