“半导体材料高温介电测量系统”参数说明
是否有现货: | 是 | 品牌: | 佰力博 |
加工定制: | 多参数测量仪 | 类型: | 高温介电测量系统 |
测量范围: | RT-1000℃ | 测量精度: | 0.05% |
频率: | 20HZ-20MHZ | 重量: | 30kg |
尺寸: | 750x660x360mm | 电源: | 220v |
型号: | HDMS | 规格: | 750x660x360mm |
商标: | partulab | 包装: | 木箱 |
产量: | 100 |
“半导体材料高温介电测量系统”详细介绍
半导体材料高温介电测量系统供应,佰力博自主研发高温介电测量系统,HDMS高温介电测量系统首创1000℃测量环境。
高温介电测量系统的全新体验
首创1000℃环境下实现高温、宽频测量
佰力博高温介电测量系统是Partulab公司历经5年打造首款高温介电温谱测量系统,该产品是国内第一个评估介电材料性能的企业化产品,经过几年的发展该产品已经是国内从事介电材料科研人员首选检测手段。
产品概述
用于分析宽频、高温条件下被测样品的阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量,同时还可以分析被测样品随温度、频率、时间、偏压变化的曲线,是专业从事材料介电性能、温度弛豫、电弛豫研究的理想测试工具。用户通过软件可以直接得出介电常数和介电损耗、阻抗谱、磁导率、机电耦合系数等随温度、时间、频率、偏压变化的曲线,高温介电测量系统是功能陶瓷器件实验室必备电学性能评估设备。
技术规格
系统参数
温度范围:室温-1000℃, 800℃以上客户自配水冷
控温精度:±1℃
测量精度:±0.1℃
控温方式:连续升温和分段升温
升温斜率:1-5℃ /min (可控)
降温斜率:1-5℃/min (可控)
控温方式:PID精确控温
显示及存储
显示控制:8.4寸彩色触摸屏
数据接口:4个USB2.0接口
通讯接口:LAN网口通讯
数据存储:数据自动转换成EXCEL格式或BMP图片格式
冷却方式:水冷(自配水冷装置)
测量参数
频率范围:20Hz-20MHz
测量精度:0.05%
样品规格:直径:20mm以内;厚度:5mm以内
测量原理:平行板电容器原理
测量方式2线-4线测量方式
电极材料:铂金
电极绝缘材料:耐高温绝缘材料
符合标准:ASTMD150和 D2149-97
物理性能
供 电:220V±10%,50Hz
工作环境:0℃ - 55℃
存储条件 :- 40℃-70℃
预热时间:30分钟
尺 寸:750mmX660mmX360mm
重 量:30kg
保修期:1 年